訊技光電科技（上海）有限公司多年來(lái)致力于在雜散光領(lǐng)域?yàn)閺V大客戶提供全方位的顧問(wèn)咨詢以及整體解決方案。我們擁有在此領(lǐng)域有多年經(jīng)驗(yàn)的專家工程師團(tuán)隊(duì)，并掌握著最前沿的雜散光分析與測(cè)試技術(shù)。其服務(wù)主要包含以下三個(gè)方面：
□ 承接雜散光仿真服務(wù)
□ 散射測(cè)試服務(wù)
□ 定制光散射儀
一、承接雜散光仿真服務(wù)
雜散光會(huì)導(dǎo)致圖像中存在多余的光，從而降低成像的品質(zhì)。對(duì)于探測(cè)系統(tǒng)來(lái)說(shuō)，雜散光會(huì)降低系統(tǒng)的靈敏度。對(duì)于成像系統(tǒng)，可能會(huì)降低照片質(zhì)量。對(duì)于投影系統(tǒng)，雜散光會(huì)在光束中產(chǎn)生不必要的亮斑。這些都會(huì)影響光學(xué)系統(tǒng)的性能。雜散光可能由透鏡表面間的多次反射、結(jié)構(gòu)反射、CIS（MCMOS圖像傳感器）造成，也可能是由于紅外光學(xué)系統(tǒng)自身熱輻射所產(chǎn)生。這些雜散光都有可能對(duì)正常的成像造成影響。隨著光學(xué)系統(tǒng)探測(cè)要求越來(lái)越高，雜散光會(huì)影響光學(xué)系統(tǒng)的性能，降低成像對(duì)比度和畫(huà)面質(zhì)量，甚至影響信號(hào)，因此對(duì)雜散光進(jìn)行分析和抑制的要求也逐步受到關(guān)注，也成為是光學(xué)系統(tǒng)像質(zhì)檢測(cè)的必要環(huán)節(jié)之一。雜散光仿真服務(wù)包括:
□ 光學(xué)系統(tǒng)內(nèi)部機(jī)構(gòu)件表面的反射光
□ 漏光
□ 從系統(tǒng)光學(xué)表面的灰塵或其他缺陷處反射出來(lái)的散射光
□ 對(duì)于地面天文學(xué)來(lái)說(shuō)，由城市上空大氣的光反射引起的天空輝光
□ 太陽(yáng)、地球和月球的軌道望遠(yuǎn)鏡雜散光。
□ 衍射雜散光
□ 冷反射&熱輻射
□ 雜光復(fù)算
雜散光的分析與抑制是成像系統(tǒng)設(shè)計(jì)中一個(gè)重要而復(fù)雜的課題。本公司代理的FRED軟件是美國(guó)Photon Engineering公司開(kāi)發(fā)的一款雜散光分析軟件，與其它軟件對(duì)比，F(xiàn)RED軟件以雜散光仿真計(jì)算準(zhǔn)確、功能全面、仿真速度快(CPU多達(dá)127線程的計(jì)算能力&支持GPU計(jì)算)，其知名度和市場(chǎng)已經(jīng)遍布全世界，現(xiàn)任公司總裁兼聯(lián)合創(chuàng)始人Richard Pfisterer作為散射理論/測(cè)量和雜散光分析方面的世界領(lǐng)先權(quán)威人士。具有35年以上的成像和非成像系統(tǒng)光學(xué)設(shè)計(jì)、軟件開(kāi)發(fā)、光學(xué)系統(tǒng)分析、光束傳播和物理光學(xué)建模/仿真經(jīng)驗(yàn)，Photon Engineering已成為北美領(lǐng)先的光學(xué)咨詢集團(tuán)。
圖1. 詹姆斯韋伯太空望遠(yuǎn)鏡散射仿真與實(shí)測(cè)對(duì)比，Stray light modeling of the James Webb Space Telescope (JWST) Integrated Science Instrument Module (ISIM) https://doi.org/10.1117/12.2238827
圖2. TMT30米望遠(yuǎn)鏡模型 紅色攝像頭的鬼像輻照度（四個(gè)量的雜散光計(jì)算：關(guān)鍵物體的識(shí)別、預(yù)估雜散光背景、離軸抑制特性PST、鬼像的形成）
二、散射測(cè)量服務(wù)
光散射測(cè)量的方法也是減少雜散光對(duì)設(shè)計(jì)性能的一種方式。本公司系列的BSDF表面散射測(cè)量提供了一種快速、準(zhǔn)確的方法來(lái)模擬光散射量，從而在制造之前評(píng)估光學(xué)加工對(duì)光學(xué)產(chǎn)品性能的影響。
主要測(cè)量功能及參數(shù)：
□ 基于ASTM E2387標(biāo)準(zhǔn)的角分辨散射（BSDF，ARS）
□ 基于ISO 13696標(biāo)準(zhǔn)的總散射值TS（Total Scattering）
□ 覆蓋整個(gè)3D空間的散射分布（2D& 3D）
□ 高靈敏度，對(duì)應(yīng)于ppm級(jí)的散射損耗和亞納米級(jí)的粗糙度
□ 測(cè)量模式：ARS , BRDF, BTDF, R, T, TS, 表面粗糙等
□ 波長(zhǎng)測(cè)量范圍：320nm～1550nm范圍內(nèi)單波長(zhǎng)可選；紅外波段（4.6um, 10.6um）
□ 表面類型：平面&曲面
□ 超精細(xì)角度分辨率：可到（0.01°）
□ 最小接近角：≤0.1°
□ 系統(tǒng)重復(fù)性精度：優(yōu)于±2%（RMS）
□ 最大樣品直徑：100mm
□ 最大樣品重量：約 500g
□ 測(cè)試數(shù)據(jù)輸出格式：FRED /ASTM /LightTools / TracePro / ASAP / ZEMAX/ SPEOS/ OP TIS/ OptiCAD（可定制）
除了軟件分析，光散射測(cè)量的方法也是減少雜散光對(duì)設(shè)計(jì)性能的一種方式。本公司系列的BSDF表面散射測(cè)量提供了一種快速、準(zhǔn)確的方法來(lái)模擬光散射量，從而在制造之前評(píng)估光學(xué)加工對(duì)光學(xué)產(chǎn)品性能的影響。
可測(cè)量波長(zhǎng)概覽
應(yīng)用領(lǐng)域：
超級(jí)光滑表面，超粗糙表面，衍射光柵，光學(xué)成像應(yīng)用，薄膜干涉，黑色涂層，曲面光學(xué)元件，微型或超大光學(xué)元件。
測(cè)量實(shí)例：
無(wú)樣品時(shí)對(duì)空氣進(jìn)行ARS測(cè)試：
圖 3. 無(wú)樣品時(shí)的ARS測(cè)量（@405 nm,532nm and 640nm）
圖4. 近紅外下對(duì)Acktar[1]黑色涂層的散射測(cè)量，左圖：用于BepiColombo太空任務(wù)的紅外光譜儀；右圖：4.6  下ARS角分辨散射分布，入射角0°，10°，40°，60°，80°。
圖5. 金剛石車(chē)削的鋁反射鏡，金剛石打磨的Al鏡的3D光散射分布及其白光干涉儀的表面形貌測(cè)量：左圖：車(chē)削痕跡引起的衍射為主的散射分布；右圖：振動(dòng)引起的衍射峰被抑制而入射面外散射增強(qiáng)的散射分布。
圖6. 金剛石打磨拋光鋁鏡的散射掃描及其相應(yīng)位置的ARS測(cè)量，左圖: 散射掃描@532nm，散射角25°，樣本大小200*160mm 2；右圖：相應(yīng)位置ARS測(cè)量。
備注：
[1] T. Kralik, D. Katsir, "Black surfaces for infrared, aerospace, and cryogenic applications", Proc. SPIE 7298, 729813 (2009)
三、定制光散射系統(tǒng)
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